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| SWD-Schlagwörter: | Rasterkraftmikroskop | |
| Freie Schlagwörter (deutsch): | Nanometrologie | |
| Institut: | Meß- und Informationstechnik / Prof. Dr. Rothe | |
| Fakultät: | Fakultät Maschinenbau | |
| DDC-Sachgruppe: | Ingenieurwissenschaften | |
| Dokumentart: | Dissertation | |
| Hauptberichter: | Rothe, Hendrik (Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil.) | |
| Sprache: | deutsch | |
| Tag der mündlichen Prüfung: | 06.07.2011 | |
| Erstellungsjahr: | 2011 | |
| Publikationsdatum: | 08.09.2011 |