| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | Automatisierung eines metrologischen Rasterkraftmikroskops für großflächige Messungen | Recknagel, Christian | 2011 |
| 2 | Untersuchungen für den industriellen Einsatz der Nanometerkoordinatenmesstechnik | Gruhlke, Martin | 2009 |
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